ARL QUANT'X EDXRFX射線熒光光譜儀的詳細(xì)資料

ARL QUANT'X EDXRF 光譜儀提供元素分析的極限性能、多用途和可靠性。其緊湊的臺(tái)式設(shè)計(jì)、緊密耦合光學(xué)器件以及*的電子冷卻檢測(cè)器，讓我們能夠在從 ppm 到百分比元素濃度的廣泛動(dòng)態(tài)范圍內(nèi)獲得無(wú)以倫比的分析精度。

ARL QUANT’X EDXRF 的功能變得更加強(qiáng)大！除了 Peltier 冷卻 Si(Li) 檢測(cè)器，現(xiàn)在該儀器還安裝了厚 1mm、面積 30mm2 的 SDD – SDD1000。SDD 能夠以出色的分辨率處理高計(jì)數(shù)率，而且通常比 Si(Li) 檢測(cè)器薄得多。常見(jiàn)厚度為 0.45mm，更高能量下的檢測(cè)效率較差。ARL QUANT’X 中的新型 SDD1000 的厚度增加一倍以上，達(dá)到 1mm。與基于 Si(Li) 的 ARL QUANT’X 相比，SDD1000 版本在周期表中表現(xiàn)出更好的靈敏度，檢測(cè)極限增加到原來(lái)的 2 倍，還適用于 Cd 和 Sn 等重金屬元素。另外，計(jì)數(shù)時(shí)間還可以減少為原來(lái)的 1/4！新型 SDD1000 結(jié)合了 SDD 和 Si(Li) 檢測(cè)器的優(yōu)點(diǎn)。 
 

*的技術(shù)

• * Peltier Si(Li) 冷卻檢測(cè)器 或者 1mm 厚的硅漂移檢測(cè)器 (SDD)。

• 數(shù)字脈沖處理 (DPP) 技術(shù)。

• 高性能、多元素分析。

• 選配的 Thermo Scientific™ UniQuant™ 軟件可提供無(wú)標(biāo)樣分析。

主要特點(diǎn)

• 預(yù)期的痕量分析靈敏度。

• 高測(cè)量吞吐量，適合過(guò)程控制。

• *的非典型材料分析算法。

• 出色的樣品處理靈活性。

• 機(jī)械簡(jiǎn)單性和可靠性。

• 緊湊、占地面積小，便于運(yùn)輸，適合現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量。

• 快速、簡(jiǎn)單的安裝，全面的現(xiàn)場(chǎng)定制化。

• 包含完整的實(shí)驗(yàn)室啟動(dòng)包。

• 可進(jìn)行空氣、真空和氦氣中的樣品分析。 

• 經(jīng)過(guò)驗(yàn)證的硬件和一體化的軟件。

• 現(xiàn)場(chǎng)協(xié)作式方法開(kāi)發(fā)。

• 全面的技術(shù)應(yīng)用支持。

• 成百上千種應(yīng)用的專業(yè)知識(shí)。

• 大樣品室、攝像機(jī)以及各種范圍的準(zhǔn)直器。

功能強(qiáng)大、簡(jiǎn)單易用的 Thermo Scientific™ WinTrace™ 軟件

• 無(wú)標(biāo)樣和半無(wú)標(biāo)樣分析。

• 含標(biāo)準(zhǔn)樣品的基本參數(shù) (FP) 和經(jīng)驗(yàn)方法。

• 多層厚度和成分。

• 無(wú)限制的元素，無(wú)限制的標(biāo)準(zhǔn)品數(shù)量。

• 多種激發(fā)條件，帶自動(dòng)化操作。

選配的 UniQuant *無(wú)標(biāo)樣分析

• 比任何其他 FP 分析更進(jìn)一步，可選的 UniQuant 程序收集從氟到鈾的所有可能元素發(fā)出的所有譜線。這種完整的樣品光譜曲線讓 UniQuant 能夠自動(dòng)校正所有可能的重疊和背景效應(yīng)。這些效應(yīng)在能量色散光譜中尤為復(fù)雜。

• 始終可以分析所有元素。

• 每份樣品的*物理特性，例如面積、厚度和質(zhì)量均納入計(jì)算。

• 校正 X 射線管輸出的長(zhǎng)期變化。

• 多種多樣的可選報(bào)告級(jí)別和格式，可以為任何類型的用戶清楚地呈現(xiàn)結(jié)果。

• UniQuant 在出廠時(shí)經(jīng)過(guò)全面預(yù)先校準(zhǔn)，可開(kāi)箱即用。

推薦用途

氣溶膠微粒過(guò)濾器

對(duì)塑料中的有毒元素進(jìn)行 RoHS / WEEE 篩選

法醫(yī)和痕量元素分析

營(yíng)養(yǎng)補(bǔ)充劑

磁性介質(zhì)和半導(dǎo)體

土壤污染和其他環(huán)境篩選

冷卻水回路的腐蝕監(jiān)測(cè)

水泥、飼料和替代燃料

冶金爐渣和礦石開(kāi)采

廢泥漿和廢油

過(guò)濾器薄膜

珠寶、貴金屬和首飾分析